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SigFit-光-機-熱耦合分析工具

概述

        美國Sigmadyne 公司的SigFit 軟件是專業的光機熱耦合分析工具,可以將有限元分析得到的光學面形等結果文件通過多項式擬合或者插值轉化為光學工具的輸入文件,并可實現主動控制的促動器布局優化、動態響應分析、光程差分析及應力雙折射效應、設計優化等,廣泛應用于光學系統設計、光存儲、激光打印、激光通信和燈具設計等領域。
 
產品介紹
1. 基本功能

        將熱分析與機械分析的溫度、應力和變形量等通過澤尼克多項式擬合或點陣圖插值,為光學分析軟件提供光學表面的變形信息和溫度和應力引起的折射率變化信息,從而實現熱、機械及光學的耦合分析。
• 多項式擬合:將多種輸入格式的數據擬合為多項式。多項式類型包括標準和邊緣Zernike 多項式、非球面多項式、X-Y多項式等九種格式。擬合結果包括多項式系數、光學工具輸入宏文件、擬合RMS 和PV 值等
• 表面變形插值:將光學測試的試驗數據或有限元仿真的網格數據插值為一個數組或者另一種網格結果,以用于仿真預測結果與光學測試結果的對比或描述Zernike 多項式無法準確描述的光學表面變形
 

 
2. 高級應用
• 主動控制:分析光學面形RMS值隨激勵源數目的變化關系,分析如何布置激勵源使光學表面RMS 更小,為施加激勵源的位置和大小提供參考
• 動態響應:基于固有頻率結果、激勵載荷和阻尼等,計算面形由于諧波振動、隨機振動和瞬態載荷引起的剛體位移、曲率變化和RMS 誤差、傳遞函數變化以及各階模態對RMS 的影響等
• 設計優化(僅MSC Nastran):將光學表面的Zernike系數、面型RMS 值、PV 值等參數轉變為Nastran 格式的方程,利用Nastran 的優化求解器對光學表面的面型、支撐結構、材料參數等進行優化。
• 光程差分析:根據有限元分析的鏡面應力和溫度結果、流體軟件計算的鏡面附近流體的密度以及這些參數對折射率的影響關系,計算為平均光程差、雙折射等光學特性
 
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